產品中心您當前的位置:首頁 > 產品中心 > > 無損檢測儀器 > LH-200J涂層測厚儀 膜厚計

              基礎信息Product information

              產品名稱:涂層測厚儀 膜厚計

              產品型號:LH-200J

              產品簡介:

              日本KETT LH-200J 涂層測厚儀 膜厚計

              產品特性Product characteristics

              日本KETT LH-200J 涂層測厚儀 膜厚計

               

              日本KETT LH-200J 涂層測厚儀 膜厚計

              特點:    本儀器采用了渦流測厚方法,可無損的測量非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上的非導電覆層的厚度(如琺瑯、相交、油漆、塑料等)。內置打印機,可打印數據,有四個統計功能。

              LH-200J測定方法高頻渦流式測定對象非磁性金屬上絕緣層測定范圍0~800um或0~32.0mils測定精度<50um±1um       >50um±2%分辨率<100um 0.1um    >100um 1um界限設定可設定上/下限數值測試單位公/英制互換顯示方式LCD數顯操作面板密封防水按鍵附屬品鋁基體/校正標準片/電池/皮套/說明書電源DV3V 主機5#堿性電池×6個 打印機5#堿性電池×4個體積80(W)×80(D)×30(H)重量1100g


               

              留言框

              • 產品:

              • 您的單位:

              • 您的姓名:

              • 聯系電話:

              • 常用郵箱:

              • 省份:

              • 詳細地址:

              • 補充說明:

              • 驗證碼:

                請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7

              上一篇:KEC-990KEC-990高量程空氣正負離子測試儀

              下一篇:PD 42激光測距儀

              手機:

              18928441536