技術文章您當前的位置：首頁 > 技術文章 > 磁粉探傷儀 CEE-I 磁粉探傷儀
磁粉探傷儀 CEE-I 磁粉探傷儀
日期：2011-08-29瀏覽：1876次
特點：CEE-I磁粉探傷儀是小型便攜式無損檢測儀器，具有交直流兩種輸出功能。采用可控硅組成無觸點的電子、電路、噪音小、壽命長、體積小、重量輕、提升力大等優點。
技術指標：
電源電壓：交流220V
輸出電壓：交流36V，直流8V
提升力：馬蹄（A型）探頭交流≥4kg 電磁軛（D型）探頭交流≥6kg 直流36kg 環型（O型）探頭交流1800TA
主機重量：5.5kg
主機重量：5.5kg
外型尺寸：230×110×165mm
深圳歐野電子有限公司
：-28447789
上一篇：粗糙度儀 RT210
下一篇：CYE-A磁粉探傷儀
|
|
|
|
|
 |
在線客服